k-Space Associates，Inc.發(fā)布工業(yè)計(jì)量領(lǐng)域產(chǎn)品
1. X射線熒光膜厚測(cè)量設(shè)備（型號(hào)：kSA XRF）
隨著工業(yè)產(chǎn)線檢測(cè)技術(shù)的不斷發(fā)展，k-Space推出了新產(chǎn)品，kSA XRF（X射線熒光膜厚測(cè)量設(shè)備）。由于金屬薄膜和介電薄膜上的膜層厚度過薄，所以通過光學(xué)方法測(cè)量其厚度是不可靠的，kSA XRF系統(tǒng)的推出主要就是為了解決該問題。它可以在線測(cè)量許多不同材料基底（例如：玻璃和太陽能電池組件）上的薄膜厚度。
kSA XRF系統(tǒng)主要由X射線管、高壓發(fā)生器和X射線探測(cè)系統(tǒng)組成。該系統(tǒng)可識(shí)別 X 射線發(fā)射光譜的光譜峰值，并收集峰值強(qiáng)度信息以供進(jìn)一步分析。系統(tǒng)可根據(jù)您的鍍膜方案及測(cè)量需求來測(cè)試對(duì)應(yīng)的原子種類。另外，可將此設(shè)備集成到現(xiàn)有的 QC 系統(tǒng)中，并通過警報(bào)提示實(shí)時(shí)記錄薄膜的厚度。
2. 反射率及顏色測(cè)量工具（型號(hào)：kSA RCM）
新產(chǎn)品 kSA RCM（反射率及顏色測(cè)量工具）可測(cè)量實(shí)時(shí)光譜反射率和顏色，以確保樣品表面（如玻璃和太陽能電池板）反射的一致性。
該設(shè)備可實(shí)時(shí)測(cè)量反饋樣品的反射率及顏色的變化情況，用于工藝的流程控制，對(duì)產(chǎn)品的產(chǎn)量和質(zhì)量起著重要作用。kSA RCM包含一個(gè)連接到雙線性平臺(tái)系統(tǒng)的光學(xué)頭，用于掃描面板。它發(fā)射一束光束打在面板表面，之后由光譜儀收集反射光譜，接著由 k-Space 軟件分析并存儲(chǔ)采集的數(shù)據(jù)，測(cè)量光譜反射率和 Lab* 顏色參數(shù)。k-Space 可以將此技術(shù)集成到現(xiàn)有的 QC 系統(tǒng)、PLC 或工廠數(shù)據(jù)庫中。
