AM0 &AM1.5G A+ Glass 雙燈太陽光模擬器/雙燈太陽能模擬器，目前由日本SAN-EI公司開發(fā)，并且已交付AIST、中國計量科學研究院、南京大學、南開大學等使用；該設(shè)備光譜不匹配性<±10%，有效光譜范圍300nm~1800nm。

主要應(yīng)用：

滿足各種太陽能電池的測試，例如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、有機導電*分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)、鈣鈦礦太陽能電池、疊層太陽能電池測試等；

主要特點：AM1.5G A Class 光譜 & AM0 匹配光譜！

     ? 雙燈設(shè)計，光譜范圍 300nm~1800nm；

     ? 濾片選擇：AM1.5G、AM0或其他；

     ? 匹配JIS 8912,IEC 60904-9,ASTM E927-5標準；

     ? 光譜不匹配性：<±10%   A+級；

     ? 光強不均勻性：<2%    A Class；

     ? 光強不穩(wěn)定性：<1%    A+級；

     ? 有效光斑面積：220mmX220mm（50mmX50mm，80mmX80mm，

                               180mmX180mm，300mmX300mm其他面積尺寸可定制）；

     ? 光強實時反饋控制單元；

     ? 用于單結(jié)，疊層，多結(jié)太陽能電池測量；

     ? 典型用戶：中國計量科學院研究院（3SET），南開大學，南京大學、日本AIST（2SET）... ...

實測光譜圖：

AM1.5G光譜

AM0光譜

擴展功能：
     ? 測試源表；
     ? 測試探針臺；
     ? 標準電池reference Cell；
     ? 多路控制器；
     ? 溫控測試臺；
     ? IV測試軟件:
     ? 基本測量功能： 完整 I-V 曲線測量， 完整 P-V 曲線測量，短路電流 Isc 測量，開路電壓 Voc 測量， 短路電流密度 Jsc 測量，峰值功率 Pmax 測量，峰值功率電流 Imp 測量，峰值功率電壓 Vmp 測量，效率測量，填充因子 FF 測量，串聯(lián)電阻 Rs 測量，并聯(lián)電阻 Rsh 測量；
     ? Light光照條件下，太陽能電池IV 和PV曲線測量（包含F(xiàn)orward正向掃描和Reverse反向掃描測試功能）；
     ? Light光照條件或Dark無光照條件下，太陽能電池I-V 和P-V曲線測量，I-t曲線和V-t曲線測量；
     ? Bias偏壓或Steady State穩(wěn)態(tài)測量功能（太陽能電池效率衰減測試功能）；
     ? MPPT 追蹤測試功能（Pmax 功率點隨時間的變化）；
     ? Repeatability 重復性測試功能。