AM0 &AM1.5G A+ Glass 雙燈太陽(yáng)光模擬器/雙燈太陽(yáng)能模擬器，目前由日本SAN-EI公司開發(fā)，并且已交付AIST、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院、南京大學(xué)、南開大學(xué)等使用；該設(shè)備光譜不匹配性<±10%，有效光譜范圍300nm~1800nm。

主要應(yīng)用：

滿足各種太陽(yáng)能電池的測(cè)試，例如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導(dǎo)體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、有機(jī)導(dǎo)電*分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)、鈣鈦礦太陽(yáng)能電池、疊層太陽(yáng)能電池測(cè)試等；

主要特點(diǎn)：AM1.5G A Class 光譜 & AM0 匹配光譜！

     ? 雙燈設(shè)計(jì)，光譜范圍 300nm~1800nm；

     ? 濾片選擇：AM1.5G、AM0或其他；

     ? 匹配JIS 8912,IEC 60904-9,ASTM E927-5標(biāo)準(zhǔn)；

     ? 光譜不匹配性：<±10%   A+級(jí)；

     ? 光強(qiáng)不均勻性：<2%    A Class；

     ? 光強(qiáng)不穩(wěn)定性：<1%    A+級(jí)；

     ? 有效光斑面積：50mmX50mm(80mmX80mm，180mmX180mm，220mmX220mm，300mmX300mm其他面積尺寸可定制）；

     ? 光強(qiáng)實(shí)時(shí)反饋控制單元；

     ? 用于單結(jié)，疊層，多結(jié)太陽(yáng)能電池測(cè)量；

     ? 典型用戶：中國(guó)計(jì)量科學(xué)院研究院（3SET），南開大學(xué)，南京大學(xué)、日本AIST（2SET）... ..

實(shí)測(cè)光譜圖：

AM1.5G光譜

AM0光譜

擴(kuò)展功能：
     ? 測(cè)試源表；
     ? 測(cè)試探針臺(tái)；
     ? 標(biāo)準(zhǔn)電池reference Cell；
     ? 多路控制器；
     ? 溫控測(cè)試臺(tái)；
     ? IV測(cè)試軟件:
     ? 基本測(cè)量功能： 完整 I-V 曲線測(cè)量， 完整 P-V 曲線測(cè)量，短路電流 Isc 測(cè)量，開路電壓 Voc 測(cè)量， 短路電流密度 Jsc 測(cè)量，峰值功率 Pmax 測(cè)量，峰值功率電流 Imp 測(cè)量，峰值功率電壓 Vmp 測(cè)量，效率測(cè)量，填充因子 FF 測(cè)量，串聯(lián)電阻 Rs 測(cè)量，并聯(lián)電阻 Rsh 測(cè)量；
     ? Light光照條件下，太陽(yáng)能電池IV 和PV曲線測(cè)量（包含F(xiàn)orward正向掃描和Reverse反向掃描測(cè)試功能）；
     ? Light光照條件或Dark無(wú)光照條件下，太陽(yáng)能電池I-V 和P-V曲線測(cè)量，I-t曲線和V-t曲線測(cè)量；
     ? Bias偏壓或Steady State穩(wěn)態(tài)測(cè)量功能（太陽(yáng)能電池效率衰減測(cè)試功能）；
     ? MPPT 追蹤測(cè)試功能（Pmax 功率點(diǎn)隨時(shí)間的變化）；
     ? Repeatability 重復(fù)性測(cè)試功能。