kSA MOS Ultra Scan離線薄膜應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng):對(duì)薄膜的應(yīng)力、表面曲率和翹曲進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量,還可對(duì)二維應(yīng)力
Mapping成像統(tǒng)計(jì)分析;同時(shí)準(zhǔn)確測(cè)量應(yīng)力、曲率隨溫度變化的關(guān)系。